3. stopnja
Vsebina
Cilj tega predmeta je seznaniti študenta z modernimi načrtovalskimi in tržnimi metodami ter tehnologijami na področju mikro in nanoelektronike.
Študent lahko izbere med nasalednjimi temami:
- Načrtovanje integriranih sistemov na čipu (SoC) in nanoelektronska vezja – Načrtovanje nanostruktur in modeliranje senzorjev, Načrtovalski trendi analogno-digitalnih integriranih vezij v
nanoelektronskih tehnologijah. Načrtovalski pristopi in rešitve z uporabo CAD orodij, Problemi in rešitve v nanoelektronskih tehnologijah CMOS pod 90nm, Pregled razvoja nanoelektronike.
- Napredna analogno-digitalna integrirana vezja in integrirani mikro-sistemi – Koncept integracije senzorjev v SoC, Projektno vodenje in študij praktične aplikacije iz izbranega področja
- sistemske specifikacije, specifikacije vezja in testne specifikacije (UHF sistemi na čipu, Integrirani optični sistemi, Integrirani magnetni sistemi, Sistemi s kemičnimi senzorji, Tehnologija
pametnih nalepk (SAL), Integracija protokolov, UHF-GEN2 in MEMS tehnologija).
- Industrijska in intelektualna lastnina ter osnove trženja načrtovanih vezij – Priprava patenta in patentnih zahtevkov, Proces pridobivanja projektov, NRE; kaj je MPW, MLM stroški
načrtovanja IC vezij, stroški procesiranja, tržne zakonitosti.
- Evalvacija integriranih sistemov ASIC z vgrajenimi testnimi algoritmi BIST) ter tehnologije testiranja – potrebna sistemska znanja, Testiranje integriranih sistemov ASIC in metode
evalvacije produktov, Izplen, Tiristorski efekt, ESD zaščita, Rešitve za EMI in testiranje, Kontrola kvalitete, Burn-in, Večanje zanesljivosti, Testiranje rezin, Testiranje inkapsuliranih
vezij, Temperaturni testi, Vrste ohišij, Tehnologije flip-chip in wafer-bumping, Analiza odpovedi.
Literatura
- L. A. Pleteršek, Načrtovanje analognih integriranih vezij v tehnologijah CMOS in BiCMOS, Založba FE in FRI, Ljubljana 2018
- E. Carey, S. Lidholm: Millimeter-Wave Integrated Circuits, Springer, New York, 2005
- W. Mc. Sansen: Analog Design Essentials, Springer, Dordrecht, 2006
- Fayed, M. Ismail: Adaptive Techniques for Mixed Signal System on Chip, Springer, 2006
- S. G. Narendra, A. Chandrakasan: Leakage in nanometer CMOS technologies, Springer, 2005